Přejít k obsahu

Hlavní vybavení

Nanoindentor s možností měření do 750°C

Modulární měřicí nano- a mikro-indentační systém na plně automatizovanou analýzu mechanických vlastností masivních materiálů, tenkých vrstev a organicko-anorganických materiálů metodou instrumentované indentace v oblasti zatížení 10 µN – 2 N. Systém umožňuje také mapování mechanických vlastností, cyklické zatěžování, indentační creep.

SEM-FIB CrossBeamAuriga

Řádkovací mikroskop s ultra-vysokým rozlišením s integrovaným iontovým svazkem. Mikroskop je vybaven rovněž BSE, EBSD, EDX a STEM detektory a může dělat 2D i 3D mapy chemického složení. Iontovým svazkem lze připravit ze zvolených oblastí struktury nano-vzorky, které mohou být následně podrobeny tahové, tlakové a ohybové zkoušce in-situ.

Deformační stolek s ohřevem do 1200 °C pro SEM

Deformační a teplotní experimenty lze provádět přímo v řádkovacím elektronovém mikroskopu. V průběhu experimentů lze sledovat změny mikrostruktury, rekrystalizaci i fázové přeměny a s pomocí EBSD detektoru je možné kvantifikovat změny krystalových mříží, textury apod.

Zařízení pro nedestruktivní defektoskopické zkoušení materiálu

Ultrazvukové  zařízení  pro  detekci  vnitřních  vad  materiálu  a  zařízení pro vířivé proudy sloužící k detekci povrchových a podpovrchových vad (i  na  elektricky  vodivých,  ale  nemagnetických  materiálech). Součástí zařízení je rovněž phased array pro obě metody, scanner  s  kódovanou polohou a přenosné zařízení pro mikrostrukturní analýzu mimo laboratoř.

Patička